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Article dans une revue
Characterization of thin-film adhesion and phonon lifetimes in Al/Si membranes by picosecond ultrasonics
Martin Grossmann
Martin Schubert
1
Chuan He
2
Delia Brick
Elke Scheer
3
Mike Hettich
1
Vitalyi Gusev
4
Thomas Dekorsy
3
1
University of Konstanz (78457 Konstanz - Allemagne)
2
University of Chicago (Edward H. Levi Hall 5801 South Ellis Avenue Chicago, Illinois 60637 - États-Unis)
3
Department of Physics and Center of Applied Photonics (D-78457 Konstanz, Germany - Allemagne)
- University of Konstanz (78457 Konstanz - Allemagne)
4
LAUM - Laboratoire d'Acoustique de l'Université du Mans (Laboratoire d'Acoustique de l'Université du Mans, LAUM - UMR 6613 CNRS, Le Mans Université,
Avenue Olivier Messiaen, 72085 LE MANS - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR6613 (France)
- UM - Le Mans Université (Avenue Olivier Messiaen - 72085 Le Mans cedex 9 - France)
Type de document :
Article dans une revue
Liste complète des métadonnées
https://hal-univ-lemans.archives-ouvertes.fr/hal-02536022
Contributeur : Vitali Goussev <>
Soumis le : mardi 7 avril 2020 - 19:34:23
Dernière modification le : mardi 16 juin 2020 - 16:04:08
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Lien texte intégral
Identifiants
- HAL Id : hal-02536022, version 1
- DOI : 10.1088/1367-2630/aa6d05
Collections
UNIV-LEMANS | CNRS | LAUM
Citation
Martin Grossmann, Martin Schubert, Chuan He, Delia Brick, Elke Scheer, et al.. Characterization of thin-film adhesion and phonon lifetimes in Al/Si membranes by picosecond ultrasonics. New Journal of Physics, Institute of Physics: Open Access Journals, 2017, 19 (5), pp.053019. ⟨10.1088/1367-2630/aa6d05⟩. ⟨hal-02536022⟩
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