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Characterization of thin-film adhesion and phonon lifetimes in Al/Si membranes by picosecond ultrasonics

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https://hal-univ-lemans.archives-ouvertes.fr/hal-02536022
Contributeur : Vitali Goussev <>
Soumis le : mardi 7 avril 2020 - 19:34:23
Dernière modification le : mardi 16 juin 2020 - 16:04:08

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Martin Grossmann, Martin Schubert, Chuan He, Delia Brick, Elke Scheer, et al.. Characterization of thin-film adhesion and phonon lifetimes in Al/Si membranes by picosecond ultrasonics. New Journal of Physics, Institute of Physics: Open Access Journals, 2017, 19 (5), pp.053019. ⟨10.1088/1367-2630/aa6d05⟩. ⟨hal-02536022⟩

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