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Interface Adhesion and Structural Characterization of Rolled-up GaAs/In0.2Ga0.8As Multilayer Tubes by Coherent Phonon Spectroscopy
D. Brick
V. Engemaier
Y. Guo
1
M. Grossmann
G. Li
D. Grimm
O. Schmidt
M. Schubert
V. Gusev
2
M. Hettich
T. Dekorsy
3
1
Dalian University of Technology (No.2 Linggong Road, Ganjingzi District, Dalian City, Liaoning Province, P. R. C., 116024 - Chine)
2
LAUM - Laboratoire d'Acoustique de l'Université du Mans (Laboratoire d'Acoustique de l'Université du Mans, LAUM - UMR 6613 CNRS, Le Mans Université,
Avenue Olivier Messiaen, 72085 LE MANS - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR6613 (France)
- UM - Le Mans Université (Avenue Olivier Messiaen - 72085 Le Mans cedex 9 - France)
3
Universität Konstanz (Allemagne)
Type de document :
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Liste complète des métadonnées
https://hal-univ-lemans.archives-ouvertes.fr/hal-02536029
Contributeur : Vitali Goussev <>
Soumis le : mardi 7 avril 2020 - 19:39:40
Dernière modification le : mercredi 8 avril 2020 - 01:43:43
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Lien texte intégral
Identifiants
- HAL Id : hal-02536029, version 1
- DOI : 10.1038/s41598-017-05739-6
Collections
UNIV-LEMANS | LAUM | CNRS
Citation
D. Brick, V. Engemaier, Y. Guo, M. Grossmann, G. Li, et al.. Interface Adhesion and Structural Characterization of Rolled-up GaAs/In0.2Ga0.8As Multilayer Tubes by Coherent Phonon Spectroscopy. Scientific Reports, Nature Publishing Group, 2017, 7 (1), ⟨10.1038/s41598-017-05739-6⟩. ⟨hal-02536029⟩
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